Master TOF/MS

ALTA PRODUTIVIDADE & BAIXO CUSTO O sistema MASTER TOF atende as necessidades atuais de mercado no que se refere a custo benefício, oferecendo alta performance com um considerável baixo custo. Resultando assim alta produtividade com baixo custo por amostra em analises rápidas ( Fast GC ) e alto nível de automação com aumento das precisão e acuracidade. REDUZIDO ESPAÇO DE BANCADA A estrutura compacta do MASTER TOF permite o uso de um mínimo espaço de bancada. O design extremamente compacto do MASTER TOF faz dele o primeiro instrumento desta categoria com espaço reduzido de bancado, com todo o sistema de vácuo incorporado no sistema.


Cromatógrafo Master GC e TOF/MS acoplado.


Quando uma positiva e exata identificação é fundamental e uma detecção espectrométrica de massa é necessária , espectrômetros de massas convencionais como Quadrupolo e Íon Trap não fornecem informações suficientes para uma reconstrução de picos muito estreitos em toda a faixa de massa. Time of Flight Espectrômetros ( TOF-MS) é a única tecnologia capaz de atender de maneira adequada estes requerimentos devido a sua rápida taxa de aquisição de dados. O detector DANI MASTER TOF–MS executa uma aquisição de dados extremamente rápida ( 1000 spectros /s) e apresenta uma larga faixa dinâmica linear ( 105 ) , atendendo os requerimentos de uma detecção rápida e com alta resolução. O detector DANI MASTER TOF-MS combinado com o cromatógrafo a gás DANI MASTERR GC é capaz de fornecer a solução ideal para cromatografia rápida ( Fast GC ) e GCxGC, obtendo produtividade e performance em um instrumento de bancada extremamente compacto. O simples e intuitivo software MASTER LAB oferece ferramentas apropriadas para um confiável controle do instrumento, desde procedimentos de auto tune até gerenciamentos de seqüências de amostras. O software fornece também uma poderosa ferramenta de processamento de dados e um alogarítimo “deconvolution” capaz de manipular uma grande quantidade de dados de uma maneira inteligente e efetiva , resultando em uma identificação confiável de traços de componentes até mesmo em matrizes complexas.




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